王玉楹1，张亚杰2，陈 波1，张雪亮3

（1.江苏扬电科技股份有限公司， 江苏 泰州 225500； 2.保定天威集团特变电气有限公司， 河北 保定 071056； 3.保定职业技术学院， 河北 保定 071000）

摘要：本文所讨论的是一台采用箔式绕组的双分裂变压器，在分裂运行试验下负载损耗远大于计算值。对分裂运行负载损耗偏大的原因进行了分析并进行了磁场仿真，发现分裂运行时箔式绕组中电流分布严重不均匀。在两个箔式绕组相对应的端部，电流密度达到平均电流密度的近40倍，导致箔式绕组中损耗大大超过计算值。将低压绕组改为纸包扁线绕制，分裂运行的负载损耗得到明显下降，与计算值预期相符，说明在某些情况下，轴向双分裂变压器的低压绕组不适宜采用箔式绕组。

关键词：箔式绕组；分裂运行；损耗；仿真

中图分类号：ＴＭ４０1+.1 文献标识码：Ｂ 文章编号：１００１－８４２５（２０24）10－００65－０5

作者简介

王玉楹（1979-），男，江苏泰州人，高级工程师。