付欢球1，黄 华2，董玉明3

（1.特变电工衡阳变压器有限公司， 湖南 衡阳 421007；2.正泰电气股份有限公司， 上海 201620；

3.中国科学院深圳先进技术研究院， 广州 深圳 518055）

摘要：由于高阻抗电力变压器结构设计的多样性，漏磁场分布的特殊性，绕组热点温升可能成为变压器可靠性设计的主要矛盾，并直接影响了高阻抗电力变压器的预期寿命和长期安全可靠运行。通过采用光纤测温装置，直接测量了一台采用高压内置结构的高阻抗电力变压器的绕组热点温升，并与间接测量及仿真计算的结果进行了比较。根据比较结果，进一步分析了仿真计算和间接测量的误差问题以及采用光纤测温直接测量的准确性，为高阻抗电力变压器的可靠性设计提供了借鉴。

关键词：高阻抗电力变压器；光纤测温；热点温升；漏磁场

中图分类号：ＴＭ４０6 文献标识码：Ｂ 文章编号：１００１－８４２５（２０22）０9－００64－０7

作者简介

付欢球（1979-），男，江西抚州人，高级工程师。