豆 朋，成祥茂，杨 刚，余克光，丁瑞蓉

（广东电网有限责任公司潮州供电局， 广东 潮州 521000）

摘要：选取某110kV电力变压器变高中性点套管，为判定该套管的绝缘状态，对其进行了热稳定与高电压介损、频域介电谱试验联合的试验方法。结果显示介电谱曲线随温度升高上移；越远离电容芯子，分屏介电谱试验曲线越高；热稳定试验升降压曲线一致性较差，且随温度增加，tanδ成指数式增长。解体结果与试验结果完全一致。分析认为水分从套管头部的密封圈失效位置沿着电容芯子内部铝杆进入套管内部，接着进入电容屏绝缘纸顶部，先侵入外层的绝缘纸，与绝缘纸的非介电晶体部分结合，并在运行的电场及温度作用下加速外层绝缘纸的老化，使其转化为非介电晶体，从而构成老化的恶性循环，进一步入侵内屏绝缘，导致套管介损上升。

关键词：套管；介电损耗；高电压介损；频域介电谱

中图分类号：ＴＭ４０6 文献标识码：Ｂ 文章编号：１００１－８４２５（２０22）12－００54－０5

作者简介

豆 朋（1983-），男，安徽淮北人，高级工程师。