陈明光，闫程博，崔  姗，王振蘅
（国网徐州供电公司， 江苏 徐州 221000）

摘要：在变电站内高压并联电抗器绕组连同套管介损测量通常较为繁琐，尤其是拆接被试品高压引线的过程会耗费较长时间。本文作者介绍了高抗介损常规试验方式、不拆引线介损试验接线方式及原理，通过研究高抗不拆高压引线情况下，绕组连同套管介损测试中的附加电容及附加损耗来源与分布，建立了相关绝缘结构模型并进行分析，提出通过电屏蔽法降低附加电容与附加损耗对测试结果的影响，实现不拆高压引线进行相关试验，并进行了理论分析与试验验证，结果表明其介损测试值与真实值接近。
关键词：高压并联电抗器；介质损耗因数；引线；屏蔽
中图分类号：ＴＭ４０6      文献标识码：Ｂ      文章编号：１００１－８４２５（２０25）11－００47－０7

作者简介：

陈明光1983-，男，江苏徐州人，高级工程师，主要研究方向为电气设备试验、故障诊断、高电压与绝缘技术。

闫程博1994-，男，江苏新沂人，工程师，主要研究方向为变压器类设备检修试验、故障诊断。

崔  姗1993-，女，江苏丰县人，工程师，主要研究方向为变电设备检修试验、故障诊断。