基于高频损耗比的干式空心电抗器制造缺陷
检测方法及应用探讨
- 葛计彬1，张 波2，郝文光1，卞震洪1，吴宝春1，张 天1
（1.北京电力设备总厂有限公司， 北京 102401； 2.国网浙江省电力有限公司检修公司， 浙江 杭州 310000）
- 摘要：本文通过分析电抗器因制造工艺导致少匝和极限工艺偏差时600Hz损耗，提出高频损耗可作为电抗器制造缺陷的检测手段及其适用范围，并以600Hz的实测损耗与理论损耗之比是否超过1.5作为判据，以同组任两台损耗之比是否超过1.5作为辅助判据，同时列举应用实例。
关键词：干式空心电抗器；制造缺陷；高频损耗
中图分类号：ＴＭ４72 文献标识码：Ｂ 文章编号：１００１－８４２５（２０21）11－００61－０4
- 作者简介
葛计彬（1977-），男，河北保定人，高级工程师。